品牌:德国fischer
测量范围:元素17到92
测量时间:15-30
测量精度:正负百分之五
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我公司专业维修X-Ray 膜厚仪 XULM-xym针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层
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